Es de gran importancia medir con precisión la distribución de la tensión residual de los elementos ópticos y evaluar su influencia en el rendimiento de los instrumentos ópticos en la obtención de imágenes ópticas, la teledetección aeronáutica, la fabricación de semiconductores y otros campos. La tensión de los elementos ópticos puede estar estrechamente relacionada con la birrefringencia basada en la fotoelasticidad. Por lo tanto, el método de cuantificación de la birrefringencia para obtener la tensión se convierte en el principal método de las tecnologías de medición de tensión para elementos ópticos. Este artículo presenta en primer lugar el principio básico de la medición de tensiones basada en la fotoelasticidad. A continuación, se revisan los avances en la investigación de tecnologías de medición de tensiones basadas en este principio, que pueden clasificarse en dos métodos: método de polarización y método de interferencia. Asimismo, se analizan y comparan las ventajas e inconvenientes de las distintas tecnologías de medición de tensiones. Por último, se resume y prospecta la tendencia de desarrollo de las tecnologías de medición de tensiones para elementos ópticos.
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