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Quantification of Power Losses of the Interdigitated Metallization of Crystalline Silicon Thin-Film Solar Cells on GlassCuantificación de las pérdidas de potencia de la metalización interdigitada de células solares de capa fina de silicio cristalino sobre vidrio

Resumen

El patrón de rejilla de metalización es uno de los elementos de diseño más importantes para las células solares de alta eficiencia. En este artículo se presenta un modelo basado en el enfoque de celda unitaria para cuantificar con precisión las pérdidas de potencia de un esquema de metalización interdigitado especializado para células solares de película fina de silicio policristalino sobre sustratos de vidrio. La suma de las pérdidas de potencia puede minimizarse para producir un diseño optimizado de patrón de rejilla para una célula con parámetros específicos. El modelo se simula con los parámetros estándar de una célula solar de silicio policristalino, y se identifican áreas de mejora de la eficiencia, a saber, una reducción de la anchura de los dedos emisores y un cambio hacia módulos de alto voltaje interconectados en serie con tamaños de célula muy pequeños. Utilizando el modelo para optimizar futuros diseños de rejilla, se pueden conseguir mayores eficiencias de célula y módulo de tales dispositivos.

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  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
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Información del documento

  • Titulo:Quantification of Power Losses of the Interdigitated Metallization of Crystalline Silicon Thin-Film Solar Cells on Glass
  • Autor:Peter J., Gress; Sergey, Varlamov
  • Tipo:Artículo
  • Año:2012
  • Idioma:Inglés
  • Editor:Hindawi Publishing Corporation
  • Materias:Energía solar Fotoquímica Fotocatálisis Nanoestructuras Biofotónica
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