Se investiga la influencia del contenido de hidrógeno en el silicio amorfo hidrogenado intrínseco (i-a-Si:H) sobre el rendimiento de las células solares de heterounión (HJ). El resultado de la simulación muestra que en el rango de 0-18% del contenido de hidrógeno en la capa i, las células solares con mayor contenido de hidrógeno en la capa i pueden tener un mayor grado de pasivación de enlaces colgantes en la superficie de silicio monocristalino (c-Si). Además, el resultado experimental muestra que las células solares HJ con un bajo contenido de hidrógeno presentan una interfaz a-Si:H/c-Si deteriorada. Se supone que la interfaz deteriorada se atribuye a (i) huecos creados por enlaces colgantes superficiales de c-Si insuficientemente pasivados, (ii) huecos formados por cúmulos de SiH2, y (iii) partículas de Si causadas por la formación de partículas en fase gaseosa en el plasma de silano. La hipótesis propuesta está bien fundamentada y explicada desde el punto de vista del plasma mediante espectroscopia de emisión óptica.
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