En este estudio se llevó a cabo la evaluación de la resistencia a la corrosión a alta temperaturas de películas delgadas de BixTiyOz obtenidas por la técnica de PVD) sputtering RF. Mediante pérdida de masa se evaluó el fenómeno de corrosión. Los recubrimientos se sometieron a temperaturas de 400 y 600 °C durante 100 ciclos de oxidación. Cada ciclo consta de 1 h de calentamiento y 1 h de enfriamiento. Los datos de pérdida de masa se tomaron cada 10 ciclos hasta completar los cien en atmosfera ambiente. Se determinó el comportamiento de los recubrimientos de BixTiyOz como barrera térmica por medio de análisis morfológico, superficial y químico.
La microestructura de los recubrimientos se analizó mediante XRD (difracción de rayos X), SEM (microscopia electrónica de barrido), AFM (microscopia de fuerza atómica) y microscopía laser confocal. La composición química se determinó con AES (espectroscopía de electrones Auger), la cual se comparó con los resultados obtenidos con XRD. La resistencia al desgaste y el coeficiente de fricción se midieron valiéndose de la técnica bola sobre disco.
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