Nos centramos en el origen y las fuentes de contaminación superficial y los defectos que provocan el fallo de los interruptores electrostáticos MEMS. Se han caracterizado la morfología y las composiciones químicas y elementales de las superficies de contacto, las vías conductoras y otras partes de los interruptores mediante SEM, EDXA y XPS para comprender la diferencia entre los datos recogidos para los dispositivos que habían superado la prueba de conductividad eléctrica y los que se encontraban defectuosos. En los detalles de los interruptores defectuosos se detectó C, O, Al, Ca, Ti, Cu y algunas otras impurezas. Por el contrario, los interruptores que funcionaban estaban limpios, al menos en el nivel de sensibilidad de EDXA y XPS. Las principales fuentes de contaminación y defectos superficiales fueron las capas de sacrificio incompletas, los materiales del sustrato y los electrolitos empleados para el chapado de los contactos. Se puso de manifiesto la influencia negativa de las micropartículas extrañas, especialmente los óxidos de alúmina y de cobre, en la conductividad y la porosidad de los contactos.
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