Para realizar un control de calidad completo de diferentes tecnologías de módulos de capa fina (a-Si, CdTe y CIS) se investigó una combinación de métodos rápidos y no destructivos. Las mediciones basadas en cámaras, como las tecnologías de electroluminiscencia (EL), fotoluminiscencia (PL) e infrarrojos (IR), ofrecen excelentes posibilidades para determinar fallos de producción o defectos en módulos solares que no pueden detectarse mediante mediciones de potencia estándar. Estos tipos de medición óptica proporcionan imágenes de alta resolución con una distribución bidimensional de los rasgos característicos de los módulos fotovoltaicos. Este artículo se centra en el control de calidad y la caracterización mediante imágenes EL, PL e IR con cámaras convencionales y una fuente de excitación alternativa para la configuración PL.
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