Se depositaron películas delgadas de óxido de plata sobre sustratos de vidrio a una temperatura de 50°C mediante la técnica de deposición en baño químico bajo diferentes tiempos de deposición utilizando el precursor AgNO3 puro y trietanolamina como agente complejante. El análisis químico basado en la técnica EDX muestra la presencia de Ag y O en los niveles de energía adecuados. Las características morfológicas obtenidas mediante SEM mostraron que las estructuras de AgxO variaban según el tiempo de deposición. La difracción de rayos X mostró los picos de Ag2O y AgO en la estructura. La brecha de banda directa y el índice de refracción aumentaron a medida que aumentaba el tiempo de deposición y se situaron en el rango de 1,64-1,95 eV y 1,02-2,07, respectivamente. Los valores del band gap y del índice de refracción obtenidos indican posibles aplicaciones en sistemas fotovoltaicos y fototérmicos.
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