El proceso principal de propagación de grietas en materiales policristalinos es muy complejo debido a los efectos del mecanismo de deslizamiento intercristalino. Múltiples factores dificultan considerablemente el análisis del estado de las tensiones en la punta de la grieta dentro del ámbito teórico de la mecánica de la fractura lineal (LFM). Como base para el modelo Bilby-Cottrell-Swinden sugerido, proponemos un método para determinar el estado de las tensiones en la punta de una grieta en propagación en microespécimenes sometidos a tensión y medidos dentro de un microscopio electrónico de transmisión de alto voltaje (HVTEM). A partir de las observaciones de microscopía electrónica de una grieta principal y de la formación de microfisuras en la zona plástica, se determinó la integral J.
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